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BeNano Zeta 電位分析儀是丹東百特儀器公司開發(fā)的測量顆粒體系 Zeta 電位的光學檢測系統(tǒng)。
BeNano 180 納米粒度分析儀是丹東百特儀器公司開發(fā)的采用背向散射技術用于檢測納米顆粒粒度及其分布的光學檢測系統(tǒng)。
BeNano90納米粒度分析儀是基于動態(tài)光散射原理，樣品分散在樣品池中，通過激光照射到樣品上，光電檢測器在 90°角檢測樣品顆粒布朗運動造成的散射光強隨時間的波動，再通過相關器進行自相關運算得出樣品的自相關曲線，結合數(shù)學方法得到顆粒的擴散系數(shù)，進一步利用斯托克斯 - 愛因斯坦方程得到樣品的粒度分布結果。
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